采集卡行業(yè)快報(bào) 淺析射頻輻射抗擾度測(cè)試
隨著電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，許多電子設(shè)備工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生電磁場(chǎng)，因此對(duì)各種電子元件進(jìn)行射頻輻射抗擾度測(cè)試，是非常必要的。首先我們要做的是明確我們進(jìn)行測(cè)試的主要目的。從電子產(chǎn)業(yè)角度講，射頻輻射抗擾度測(cè)試是為了建立一個(gè)共同的標(biāo)準(zhǔn)來評(píng)價(jià)電氣和電子產(chǎn)品或系統(tǒng)的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾的能力。
前面我們了解到射頻輻射抗擾度測(cè)試主要目的，接下來我們就具體講解下改測(cè)試系統(tǒng)主要包括哪些內(nèi)容。一般在實(shí)驗(yàn)測(cè)試過程中我們都要準(zhǔn)備好以下幾件設(shè)備：信號(hào)發(fā)生器（射頻輻射源），功率放大器（方便調(diào)節(jié)干擾概率大小），天線，場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試探頭（接受干擾信號(hào)裝備），場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試與記錄設(shè)備，電波暗室（主要作用在于建立一個(gè)理想實(shí)驗(yàn)環(huán)境），橫向電磁波室等
那么采集卡在這過程中主要起什么作用呢？其實(shí)他與測(cè)試軟件一起達(dá)到數(shù)據(jù)收集及收據(jù)傳輸?shù)淖饔?，具有圖形化測(cè)試設(shè)備配置、自動(dòng)執(zhí)行和檢查場(chǎng)均勻性、自動(dòng)/手動(dòng)/半自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試等功能，具有強(qiáng)大的測(cè)試數(shù)據(jù)管理功能等特點(diǎn)。
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